压电扫描台应用于原子力显微镜

2020-03-09 10:00:37

高分辨率显微镜技术必须能够准确且可重复地定位成像元件或 样本。应用范围从光学显微镜物镜在景深模式下精准z焦点定位到光子超分辨率荧光显微镜对微小生物样本的精准定位。此外,在原子力显微镜(AFM)、电子显微镜(SEM和 TEM)和相关显微镜中,压电纳米定位解决方案甚至可以极大地支持苛刻的定位任务。AFM结构原理图如下:

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